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深圳千兆科与CISC携手 推介RFID测试新技术

2016-07-14 17:23 RFID世界网

导读:近几年,RFID技术及应用在全球范围内快速增长,而RFID及NFC等技术被誉为物联网系统的“First meter”,RFID及NFC产业的快速发展推动着物联网产业的迅速落地。2016年7月12日,奥地利CISC半导体公司与深圳千兆科科技有限公司在深圳格兰云天大酒店联合举办了一场面向专业人士的RFID测试技术交流研讨会。

  近几年,RFID技术及应用在全球范围内快速增长,而RFID及NFC等技术被誉为物联网系统的“First meter”,RFID及NFC产业的快速发展推动着物联网产业的迅速落地。2016年7月12日,奥地利CISC半导体公司与深圳千兆科科技有限公司在深圳格兰云天大酒店联合举办了一场面向专业人士的RFID测试技术交流研讨会。

深圳千兆科与CISC携手 推介RFID测试新技术

RFID测试技术交流研讨会

  据了解,CISC是欧洲著名的聚焦于汽车、RFID及NFC系统设计、建模、仿真及测试技术的厂家,也是RFID、NFC及非接卡测试测量方案的国际领导者。本次研讨会的主讲嘉宾——CISC首席技术官Josef Preishuber-Pflügl就RFID标准及测试发表了专业的演讲,并与大家就其中的技术要点进行了现场互动交流,内容涵盖了UHF、HF/NFC标签、芯片及读写器。

深圳千兆科与CISC携手 推介RFID测试新技术

CISC首席技术官Josef Preishuber-Pflügl

  在研讨会上,Josef为大家展示了CISC半导体公司开发的CISC RFID Xplorer测试仪。据介绍,这套设备有着便捷,高品质的RFID性能测试系统,专门为UHF RFID标签通信范围测试和读写器性能和一致性测试而开发设计。它的研发是为了能简单用于标签频率的灵敏度,通信范围和反向散射功率的测量以及测试UHF读写器。设备能在500M-1.3GHz频率范围内任意操作。在性能测试方面,测量速率可低至1s/频率。在读写器性能和一致性测试方面,可在没有记录时间限制时实时进行信号记录。

  另外,还展示了一套便捷、高品质的测试系统CISC NFC Xplorer。它专门为HF RFID和NFC设备测量和性能及一致性测试而开发设计。该测试系统是专业的测试工具灵活性高,便于运送。只需要几分钟就能拆解和设置装置,不仅节约时间,而且保证用户可妥善处理。

  据介绍,CISC的测试仪器将以秒的速度来寻找和修正读写器和标签问题,并通过自动性能测试和自动一致性测试来节省出厂时间以及企业成本。Jose指出,CISC将用更可高精度和效率的产品测试方式助推RFID产业的成熟,通过物联网这最初的1米路程加速物联网产业的迅速落地。

深圳千兆科与CISC携手 推介RFID测试新技术

CISC RFID Xplorer测试仪

  Josef告诉记者,CISC Semiconductor在标准化组织ISO/IEC和GSI EPCglobal有着领袖地位,以其10多年RFID测试经验可确保所测试的结果就是行业中最新的标准数据,并能保证消费者可便捷的使用可靠产品。

深圳千兆科与CISC携手 推介RFID测试新技术

深圳千兆科业务总监罗海涛先生演示CISC RFID Xplorer测试仪

  对深圳千兆科及CISC RFID Xplorer测试仪感兴趣的朋友可以通过以下链接下载当天演讲PPT(中文版):

  https://www.cisc.at/rfid_nfc_workshop_giga-science_cisc_china_2016/